赤峰EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪来电垂询 苏州英飞思科学 [英飞思科学)66089b4]"内容：声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。
应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
以上信息由专业从事EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪的英飞思科学于2024/4/26 7:21:19发布
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