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赤峰XRF镀层测厚仪公司来电洽谈「英飞思科学」

来源:英飞思科学 更新时间:2025-05-05 21:17:43

以下是赤峰XRF镀层测厚仪公司来电洽谈「英飞思科学」的详细介绍内容:

赤峰XRF镀层测厚仪公司来电洽谈「英飞思科学」 [英飞思科学)]"内容:

>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>电镀液分析

>镀层,如金基上的铑材料分析

>电镀液分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能

英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。

声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射,测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间,即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度,也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的,体积与小型半导体收音机相近,厚度值的显示多是数字式的。对于钢材,测定厚度达2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之间。

膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

以上信息由专业从事XRF镀层测厚仪公司的英飞思科学于2025/5/5 21:17:43发布

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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营:光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪

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